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专利基本信息
专利名称 一种基于CIS的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质
专利状态 - 专利号(申请号) CN110111315B
专利申请日期 2019-04-26 专利类型 发明专利
申请公布号 2019103422544 申请公布日 2019-04-26
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 梁艳阳;吴伟;赵朋
专利权人 五邑大学
专利摘要 本发明公开了一种基于CIS的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质,使CIS传感器对圆柱体表面采集模拟图像,对模拟图像转换的数字图像进行补偿处理,对补偿后的数字图像特征分析和缺陷检测;通过CIS传感器实现对圆柱体表面的缺陷检测,克服人工检测效率低、错误率高和线阵相机造价昂贵、体积大的缺点,同时对CIS的图像进行补偿处理,优化成像效果,使特征分析和缺陷检测具有更高的准确性。
专利价值评估分析
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