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专利基本信息
专利名称 激光溅射电离冷聚焦直交式飞行时间质谱仪
专利状态 专利权维持 专利号(申请号) 200710009920X
专利申请日期 2007-12-03 专利类型 发明专利
申请公布号 200710009920 申请公布日 2007-12-03
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 -
专利权人 厦门大学
专利摘要 激光溅射电离冷聚焦直交式飞行时间质谱仪,涉及一种质谱仪。提供一种使激光电离源与质谱分析器匹配,去除干扰峰,谱图清晰,对固体样品无标样分析的激光溅射电离冷聚焦直交式飞行时间质谱仪。设激光器、聚焦透镜组、进样探杆、二维移动平台、离子源腔体、主腔体、采样锥、射频多极杆、截取锥、离子透镜组和飞行时间质量分析器。激光器和聚焦透镜组设于离子源腔体外,进样探杆、二维移动平台和采样锥设于离子源腔体内;离子源腔体腔壁上设有石英窗口、真空抽口及阀门;主腔体腔壁上设真空抽口,截取锥、射频多级杆和离子透镜组设于主腔体内;进样探杆、二维移动平台和采样锥与截取锥、射频多级杆和离子透镜组同轴。
专利价值评估分析
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