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专利基本信息
专利名称 一种基于弱测量技术的非线性系数测量装置及其测量方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN109883952B
专利申请日期 2019-02-28 专利类型 发明专利
申请公布号 2019101793342 申请公布日 2019-02-28
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 李洪婧;李彦甲;黄靖正;刘苗苗;曾贵华
专利权人 上海交通大学
专利摘要 本发明提供了一种基于弱测量技术的非线性系数测量装置及其测量方法,包括探测部分和非线性产生部分;所述非线性产生部分:将泵浦光照射在待测非线性材料上,产生非线性现象;所述探测部分:将探测光通过所述泵浦光在待测非线性材料上的光斑中心,产生中心频谱偏移,进行非线性系数测量。本发明利用弱测量技术对中心频谱偏移来进行非线性系数测量,具有测量精确高,适用于不同光学材料的非线性系数测量,装置结构简单,使用方便,抗环境干扰能力强等特点。
专利价值评估分析
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