本发明公开了一种基于自适应正则化的光谱分辨率增强方法。该方法在光谱测量中至关重要,因为分辨率是光谱测量中的一个关键指标。然而,由于在光谱测量过程中,光谱测量仪器本身会引入一些因素,如谱线位置偏移、轮廓增宽和畸变等,从而导致分辨率降低。
本发明提出的基于自适应正则化的光谱分辨率增强方法,既能在抑制噪声的同时保留光谱细节,又能自适应地估计模糊核函数的宽度。这使得该方法适用于不同模糊程度下的光谱分辨率增强。
该方法充分利用了噪声对光谱强度受的影响远小于对光谱强度一阶导数的影响的特点。因此,对光谱信息的正则项施加了自适应权系数,以更好地保存光谱峰值。
本发明在光谱用于质量检测和材料分析等方面提供了技术支撑,具有较强的实用价值。
| 专利名称 | 一种基于自适应正则化的光谱分辨率增强方法 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN201410573157.3 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2014-10-23 |
| 专利授权日期 | 2015-03-25 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 朱虎;邓丽珍;周亮;李海波 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 本发明公开了一种基于自适应正则化的光谱分辨率增强方法,该方法的分辨率是光谱测量中至关重要的指标,然而由于在光谱的测量过程中,光谱测量仪器本身会引入一些导致测量的谱线位置偏移、轮廓增宽和畸变等因素,从而导致分辨率降低。本发明提出的基于自适应正则化的光谱分辨率增强方法,既能在抑制噪声的同时保留光谱细节,又能自适应地估计模糊核函数的宽度,适用于不同模糊程度下的光谱分辨率增强。本发明充分利用了噪声对光谱强度受的影响远小于对光谱强度一阶导数的影响的特点,对光谱信息的正则项施加了自适应权系数,更好的保存光谱峰值。本发明在光谱用于质量检测和材料分析等方面提供了技术支撑,具有较强的实用价值。 | ||