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基于多核独立元分析的批量生产过程故障检测方法

技术类型:非专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让

专利申请日:2007-09-26

专利所属地 :中国

专利号:200710012956.3

应用领域:电子器件制造

技术领域:电子信息

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介
  1. 一种基于多核独立元分析的批量生产过程故障检测方法,其特征在于该方法包括以下步骤:

    步骤一:采集数据 在采集数据过程中,相关变量的数据被收集。对于每个故障,采集两组数据,即标准操作模式的训练数据和在线监测的实时工况数据;其中,训练数据用于建立模型,实时工况数据用于故障检测。

    步骤二:数据处理 使用当前值补充丢失的数据,用均值和标准偏差规范化采集的观测数据。批量生产过程数据是关于批次、变量和时间的数据,首先把数据放入三维矩阵X(I×J×K)中,其中I是批次,J是变量的数目,K是每个批采样的次数,然后将矩阵X(I×J×K)变换成二维矩阵X(I×JK)。

    步骤三:核主元分析白化处理 利用核主元分析对数据进行白化处理。通过非线性映射将输入空间映射到一个特征空间,接着在此特征空间对观测数据进行白化处理,得到白化后的观测变量Z。

    步骤四:修正ICA提取独立元 利用修正ICA算法把白化后的观测变量Z转换成独立元,并使独立元各变量之间尽可能相互统计独立。

    步骤五:T2和SPE统计量进行故障检测 采用T2和SPE统计量进行在线故障检测。当观测数据的统计量没有超出统计量规定的控制限时,则属于正常数据;反之,属于异常数据,表明出现故障。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 基于多核独立元分析的批量生产过程故障检测方法
专利状态 - 专利号(申请号) 200710012956.3
申请号 - 专利申请日期 2007-09-26
专利授权日期 - 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 非专利
发明人 张颖伟;秦泗钊;王婷
权利人 -
专利摘要 一种基于多核独立元分析的批量生产过程故障检测方法,包括采集数据、数据处理、利用核主元分析对数据进行白化、利用修正ICA提取独立元及利用T2和SPE统计量进行故障检测步骤。本发明首次提出一种基于MKICA的批量生产过程监测方法,实现对复杂过程进行监测。能较早的检测到故障,从而减少工业生产过程中的损失。
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