一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法

本发明公开了一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，具体流程如下：

1. 筛选含铷岩矿、土壤、水系沉积物的标准物质，设计标准曲线。
2. 选择混合熔剂熔融制备标准样品。
3. 确定仪器分析条件、校正基体及谱线重叠效应。
4. 建立标准曲线。
5. 以定值样品验证方法的准确度及重现性。
6. 测定铷矿石中硅、铝、钙、铁、钠、钾、钛、铷。

本发明选择熔融制样作为铷矿石X射线荧光光谱分析前处理手段，相比粉末压片可消除粒度效应及一定程度上的基体效应。使用X射线荧光光谱分析铷矿石主次成分较之传统化学、仪器分析方法省时省力。

本发明具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点。单个矿石样品平均处理时间不超过20。

本发明公开了一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，具体流程如下：筛选含铷岩矿及土壤、水系沉积物的标准物质设计标准曲线，选择混合熔剂熔融制备标准样品，确定仪器分析条件、校正基体及谱线重叠效应，建立标准曲线，以定值样品验证方法准确度及重现性，测定铷矿石中硅、铝、钙、铁、钠、钾、钛、铷；本发明选择熔融制样作为铷矿石X射线荧光光谱分析前处理手段，相比粉末压片可消除粒度效应及一定程度上的基体效应，使用X射线荧光光谱分析铷矿石主次成分较之传统化学、仪器分析方法省时省力；本发明具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点，单个矿石样品平均处理时间不超过20