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快速开关功率绝缘栅半导体器件

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2004-01-21

专利所属地 :中国

专利号:CN200480006969.4

应用领域:其他电气机械及器材制造

技术领域:新材料

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

摘要: 一种绝缘栅半导体器件(30),包括栅极(34)、源极端子(36)、漏极端子(38)和栅极处的可变输入电容。该器件导通时的输入电容(Cfiss)和该器件截止时的输入电容(Ciiss)之间的比值小于2,并且优选地基本上等于1。在本发明的一个实施方式中,这是通过栅极处的有效厚度dins小于最小厚度的绝缘层(32)来实现的。


摘要: 一种绝缘栅半导体器件(30),包含以下组件:栅极(34)、源极端子(36)、漏极端子(38)以及栅极处的可变输入电容。该器件在导通状态下的输入电容(Cfiss)与截止状态下的输入电容(Ciiss)之比小于2,且优选地接近1。在一个具体实施例中,此特性通过栅极处有效厚度dins小于最小绝缘层(32)的厚度来实现。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 快速开关功率绝缘栅半导体器件
专利状态 - 专利号(申请号) CN200480006969.4
申请号 - 专利申请日期 2004-01-21
专利授权日期 2006-09-20 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 巴兰德·韦斯尔;奥克尔·C.·德扎格尔
权利人 -
专利摘要 一种绝缘栅半导体器件(30),包括栅极(34)、源极端子(36)、漏极端子(38)和栅极处的可变输入电容。该器件导通时的输入电容(Cfiss)和该器件截止时的输入电容(Ciiss)之间的比值小于2,并且优选地基本上等于1。在本发明的一个实施方式中,这是通过栅极处的有效厚度dins小于最小厚度的绝缘层(32)来实现的。
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