摘要: 一种绝缘栅半导体器件(30),包括栅极(34)、源极端子(36)、漏极端子(38)和栅极处的可变输入电容。该器件导通时的输入电容(Cfiss)和该器件截止时的输入电容(Ciiss)之间的比值小于2,并且优选地基本上等于1。在本发明的一个实施方式中,这是通过栅极处的有效厚度dins小于最小厚度的绝缘层(32)来实现的。
摘要: 一种绝缘栅半导体器件(30),包含以下组件:栅极(34)、源极端子(36)、漏极端子(38)以及栅极处的可变输入电容。该器件在导通状态下的输入电容(Cfiss)与截止状态下的输入电容(Ciiss)之比小于2,且优选地接近1。在一个具体实施例中,此特性通过栅极处有效厚度dins小于最小绝缘层(32)的厚度来实现。
| 专利名称 | 快速开关功率绝缘栅半导体器件 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN200480006969.4 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2004-01-21 |
| 专利授权日期 | 2006-09-20 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 巴兰德·韦斯尔;奥克尔·C.·德扎格尔 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 一种绝缘栅半导体器件(30),包括栅极(34)、源极端子(36)、漏极端子(38)和栅极处的可变输入电容。该器件导通时的输入电容(Cfiss)和该器件截止时的输入电容(Ciiss)之间的比值小于2,并且优选地基本上等于1。在本发明的一个实施方式中,这是通过栅极处的有效厚度dins小于最小厚度的绝缘层(32)来实现的。 | ||