X射线荧光光谱仪（XRF）、镀层测厚仪专利技术

项目简介： X荧光光谱仪（XRF）整套技术，包含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。该技术可应用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等领域。

项目核心创新点： 相对于市场同类仪器，我们在分析算法上具备以下优势： 1. 一键式自动元素识别，识别准确率>95%。由于元素X荧光特征峰较为复杂，一般自动识别效果较差，往往需要人工识别。 2. 利用卡尔曼算法对重叠峰进行自动分离。国内光谱对重叠峰分离多采用经验法扣除。 3. 基本参数法（FP法）一直是XRF研究的难题，国内能真正做好FP法的几乎没有。虽然很多厂商宣称自己的软件实现了FP法，但往往只能用于大致的定量分析，根本达不到要求。而我们的FP算法在无标样情况下能达到主要元素相对误差在1%以内，少量标样就能实现大部分元素相对误差在2%以内。 4. 理论系数法。国内多采用经验系数法，需要大量标样。我们在FP法基础上，采用系数校正数学模型，开发出可以实用的理论系数法，综合效果接近FP法，但更适合于轻基体样品分析。 5. 化合物分析。目前能量色散XRF对硫（S）之前的元素很难检测，一般往往忽略了轻元素对定量分析的影响，导致有时误差较大。因为FP法的实现，考虑了吸收和增强效应，对化合物分析结果有不可比拟的优势，在地质、矿产、冶金等行业有更好的应用。 6. 独创的薄膜FP法能适用于任何复杂镀层，如：多层镀层和混合镀层（合金镀层）、化学镀镍等。这解决了X射线荧光以往应用的局限性，提高了测试稳定度和精确度。 7. 模式识别功能。普遍厂商的XRF不带样品自动识别功能，只能用于已知材料的定量测试。对于未知材料测试容易造成较大误差。 8. 多道分析模块自主生产。国内只有几家老牌厂商才能研发生产，我们能自主研发生产，在一定程度上降低了成本。

项目详细用途： 成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析。

预期效益说明： XRF国内市场需要量>3000台/年。采用半导体探测器的市场售价在10~30万之间（根据配置性能不同价格不同）。毛利低端的超过100%，高端的150%以上。

项目简介：

X荧光光谱仪（XRF）整套技术，含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。

可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。

　项目核心创新点：

相对于市场同类仪器，我们在分析算法上有以下优势：

1、一键式自动元素识别，识别准确率>95%。元素X荧光特征峰比较复杂，一般的自动识别效果很差，往往需要人工识别。

2、利用卡尔曼算法对重叠峰进行自动分离。国内光谱对重叠峰分离多还是采用经验法扣除。

3、基本参数法（FP法）一直是XRF研究的难题，国内能真正做好FP法的几乎没有，虽然很多厂商宣称自己的软件实现了FP法，但往往只能用于大致的定量分析，根本达不到要求。而我们的FP算法在无标样情况下能达到主要元素相对误差在1%以内，少量标样就能实现大部分元素相对误差在2%以内。

4、理论系数法。国内多是用经验系数法，需要大量标样。我们在FP法基础上，采用系数校正数学模型，开发出可以实用的理论系数法，综合效果接近FP法，但更适合于轻基体样品分析。

5、化合物分析。目前能量色散XRF对硫（S）之前的元素很难检测，一般往往忽略了轻元素对定量分析的影响导致有时误差较大。因为FP法的实现，考虑了吸收和增强效应，对化合物分析结果有不可比拟的优势，在地质、矿产、冶金等行业有更好的应用。

6、独创的薄膜FP法能适用任何复杂镀层如：多层镀层和混合镀层（合金镀层）、化学镀镍等。这解决了X射线荧光以往应用的局限性，提高了测试稳定度和精确度。

镀层厚度相对误差：

表层<4%,

次层<6%，

之后层<8%

7、模式识别功能。普遍厂商的XRF不带样品自动识别功能，只能用于已知材料的定量测试。对于未知材料测试容易造成较大误差。

8、多道分析模块自主生产。国内只有几家老牌厂商才能研发生产，我们能自主研发生产，在一定程度上降低了成本。

　项目详细用途：

成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析。

预期效益说明：

XRF国内市场需要量>3000台/年。

采用半导体探测器的市场售价在10~30万之间（根据配置性能不同价格不同）。

毛利低端的超过100%，高端的150%以上。