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一种阵列涡流检测铝合金薄板缺陷的检测工艺

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2016-03-15

专利所属地 :中国

专利号:CN201610144507.3

应用领域:专用仪器仪表制造

技术领域:新材料

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

摘要:

本发明公开了一种阵列涡流检测铝合金薄板缺陷的检测工艺,其特征在于包括以下步骤:

  1. 确定阵列涡流检测仪器;
  2. 选择检测探头;
  3. 确定标准试块;
  4. 扫描检查方式设置;
  5. 探头参数设置;
  6. 探头驱动电流设置;
  7. 探头增益设置;
  8. 探头信号相位设置;
  9. 探头信号垂直增益设置;
  10. 探头平衡调整;
  11. 探头提离调整;
  12. 检测增益调整;
  13. 调整颜色盘;
  14. 使用滤波器处理提离信号;
  15. 提高小缺陷显示比率;
  16. 读取扫描图像,判断铝合金薄板缺陷。

本发明与现有技术相比,具有以下优点:

  • 检测速度快;
  • 检测结果直观;
  • 适用于铝合金薄板的快速无损检测;
  • 提高劳动生产效率。
(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种阵列涡流检测铝合金薄板缺陷的检测工艺
专利状态 - 专利号(申请号) CN201610144507.3
申请号 - 专利申请日期 2016-03-15
专利授权日期 2016-06-22 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 邬冠华;危荃;吴伟;涂俊;张士晶
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种阵列涡流检测铝合金薄板缺陷的检测工艺,其特征在于包括以下步骤:确定阵列涡流检测仪器,选择检测探头,确定标准试块,扫描检查方式设置,探头参数设置,探头驱动电流设置,探头增益设置,探头信号相位设置,探头信号垂直增益设置,探头平衡调整,探头提离调整,检测增益,调整颜色盘,使用滤波器处理提离信号,提高小缺陷显示比率,读取扫描图像判断铝合金薄板缺陷。本发明和现有技术相比,检测速度快,检测结果直观,适于铝合金薄板的快速无损检测,提高劳动生产效率。
成果评价分析
技术应用分析
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