当前位置: 首页 > 科技成果列表 > 科技成果详细

一种二极管选择元件阵列结构及制造方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术许可

专利申请日:2013-02-01

专利所属地 :中国

专利号:201310040155.3

应用领域:其他信息技术服务业

技术领域:电子信息

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

了解与分析本科技成果,可查看成果概况并使用以下技术转移数智化应用工具:
成果概况
简介

一种二极管选择元件阵列结构及制造方法:

博佳琴电子科技提供一种二极管选择元件阵列结构制造方法,该方法采用掩埋字线(buried word line)方式制造二极管选择元件阵列,该阵列适用于高密度的存储元件如相变化存储器(Phase Change Memory,PRAM)、电阻随机存取存储器(Resistive Random Access Memory,RRAM)、导电桥随机存取记忆体(Conductive Bridge Random Access Memory,CBRAM)等。制造步骤简单,而且不需使用外延生长(Epitaxial Growth)。

该方法在P型半导体衬底上间隔形成浅隔离槽,浅隔离槽之间形成胚体柱,其中之一为P结胚体柱,其余为N结胚体柱;在浅隔离槽中填满绝缘层;在P型半导体衬底上形成N阱;在N阱上层掩埋第一P型扩散层;N结胚体柱上形成N型扩散层,N型扩散层上层形成钨插塞,钨插塞与N型扩散层连接形成二极管第一极;P结胚体柱上延伸形成第二P型扩散层,第二P型扩散层上层形成钨插塞,钨插塞与第二P型扩散层连接形成二极管第二极;N阱一侧上层形成N型扩散层,N型扩散层上层形成钨插塞,钨插塞与N型扩散层连接形成N阱的接触点电极。

该制造方法工艺简单,节约制造成本;由该方法形成二极管选择元件阵列结构,品质较好。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种二极管选择元件阵列结构及制造方法
专利状态 - 专利号(申请号) 201310040155.3
申请号 - 专利申请日期 2013-02-01
专利授权日期 - 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 陈秋峰;王兴亚
权利人 -
专利摘要 本发明公开二极管选择元件阵列结构制造方法:在P型半导体衬底上间隔形成浅隔离槽,浅隔离槽之间形成胚体柱,其中之一为P结胚体柱,其余为N结胚体柱;在浅隔离槽中填满绝缘层;在P型半导体衬底上形成N阱;在N阱上层掩埋第一P型扩散层;N结胚体柱上形成N型扩散层,N型扩散层上层形成钨插塞,钨插塞与N型扩散层连接形成二极管第一极;P结胚体柱上延伸形成第二P型扩散层,第二P型扩散层上层形成钨插塞,钨插塞与第二P型扩散层连接形成二极管第二极;N阱一侧上层形成N型扩散层,N型扩散层上层形成钨插塞,钨插塞与N型扩散层连接形成N阱的接触点电极。本发明工艺简单,节约制造成本;由该方法形成二极管选择元件阵列结构,品质较好。
相关图片
成果评价分析
技术应用分析
服务案例
Baidu
map