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CdSiP2晶体的腐蚀剂与腐蚀方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2016-06-21

专利所属地 :中国

专利号:CN201610453782.3

应用领域:专用仪器仪表制造

技术领域:新材料

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

摘要:

本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀剂,由溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水配制而成,其中溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水的体积比为:溴素:甲醇:硝酸:盐酸:纯净水=(0.003~0.005):2:4:4:2。

本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀方法,使用上述腐蚀剂,步骤依次如下:

  1. 将抛光、清洗、干燥处理后的CdSiP2晶片浸入腐蚀剂中,在常压、室温下超声振荡腐蚀5~10分钟取出;
  2. 将从腐蚀剂中取出的CdSiP2晶片浸入质量浓度为5%的NaOH溶液中清洗以终止反应,再用纯净水清洗至中性;
  3. 将清洗后的CdSiP2晶片在常压下自然干燥或烘干。

使用上述腐蚀剂和腐蚀方法对CdSiP2晶体进行腐蚀具有很好的择优腐蚀性,腐蚀后的CdSiP2晶片在扫描电镜下可以清晰地显示出某一晶面的腐蚀坑形貌。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 CdSiP2晶体的腐蚀剂与腐蚀方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201610453782.3
申请号 - 专利申请日期 2016-06-21
专利授权日期 2016-11-23 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 赵北君;何知宇;林莉;陈宝军;黄巍;朱世富
权利人 -
专利摘要 本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀剂,由溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水配制而成,溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水的体积比为:溴素:甲醇:硝酸:盐酸:纯净水=(0.003~0.005):2:4:4:2。本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀方法,使用上述腐蚀剂,步骤依次如下:(1)将抛光、清洗、干燥处理后的CdSiP2晶片浸入腐蚀剂中,在常压、室温下超声振荡腐蚀5~10分钟取出;(2)将从腐蚀剂中取出的CdSiP2晶片浸入质量浓度为5%的NaOH溶液中清洗以终止反应,再用纯净水清洗至中性;(3)将清洗后的CdSiP2晶片在常压下自然干燥或烘干。使用上述腐蚀剂和腐蚀方法对CdSiP2晶体进行腐蚀具有很好的择优腐蚀性,腐蚀后的CdSiP2晶片在扫描电镜下可以清晰地显示出某一晶面的腐蚀坑形貌。
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