摘要:
本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀剂,由溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水配制而成,其中溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水的体积比为:溴素:甲醇:硝酸:盐酸:纯净水=(0.003~0.005):2:4:4:2。
本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀方法,使用上述腐蚀剂,步骤依次如下:
使用上述腐蚀剂和腐蚀方法对CdSiP2晶体进行腐蚀具有很好的择优腐蚀性,腐蚀后的CdSiP2晶片在扫描电镜下可以清晰地显示出某一晶面的腐蚀坑形貌。
| 专利名称 | CdSiP2晶体的腐蚀剂与腐蚀方法 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN201610453782.3 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2016-06-21 |
| 专利授权日期 | 2016-11-23 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 赵北君;何知宇;林莉;陈宝军;黄巍;朱世富 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀剂,由溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水配制而成,溴素、甲醇、硝酸、盐酸和纯净水的体积比为:溴素:甲醇:硝酸:盐酸:纯净水=(0.003~0.005):2:4:4:2。本发明所述CdSiP2晶体的腐蚀方法,使用上述腐蚀剂,步骤依次如下:(1)将抛光、清洗、干燥处理后的CdSiP2晶片浸入腐蚀剂中,在常压、室温下超声振荡腐蚀5~10分钟取出;(2)将从腐蚀剂中取出的CdSiP2晶片浸入质量浓度为5%的NaOH溶液中清洗以终止反应,再用纯净水清洗至中性;(3)将清洗后的CdSiP2晶片在常压下自然干燥或烘干。使用上述腐蚀剂和腐蚀方法对CdSiP2晶体进行腐蚀具有很好的择优腐蚀性,腐蚀后的CdSiP2晶片在扫描电镜下可以清晰地显示出某一晶面的腐蚀坑形貌。 | ||