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一种处理共振干涉效应的共振伪核素方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2017-04-05

专利所属地 :中国

专利号:CN201710217379.5

应用领域:通用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

一种处理共振干涉效应的共振伪核素方法:

  1. 根据共振核素的核子密度,在线制作共振伪核素的共振截面表;
  2. 采用帕德近似方法拟合得到共振伪核素和分共振核素的子群参数;
  3. 求解子群固定源方程得到子群通量,利用子群通量归并分共振核素的子群截面得到有效自屏截面; 本发明方法中,通过制作共振伪核素的共振截面表,考虑共振干涉效应,具有比传统方法更高的精度和数值稳定性。
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专利基本信息
专利名称 一种处理共振干涉效应的共振伪核素方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201710217379.5
申请号 - 专利申请日期 2017-04-05
专利授权日期 2017-08-25 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 祖铁军;贺清明;曹良志;刘宙宇
权利人 -
专利摘要 一种处理共振干涉效应的共振伪核素方法,1、根据共振核素的核子密度,在线制作共振伪核素的共振截面表;2、采用帕德近似方法拟合得到共振伪核素和分共振核素的子群参数;3、求解子群固定源方程得到子群通量,利用子群通量归并分共振核素的子群截面得到有效自屏截面;本发明方法中,通过制作共振伪核素的共振截面表考虑共振干涉效应,具有比传统方法更高的精度和数值稳定性。
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