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一种磁性微位移平台式平面反射镜激光干涉仪

技术类型:实用新型专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2015-06-29

专利所属地 :中国

专利号:CN201520452679.8

应用领域:光学仪器制造

技术领域:先进制造与自动化

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本实用新型涉及一种精密测试技术及仪器领域, 特别涉及一种磁性微位移平台式平面反射镜激光干涉仪, 包括有激光源、微动平面反射镜、干涉测量光电探测器、 移动平面反射镜、分光镜组和磁性微位移平台, 所述微动平面反射镜设置在所述磁性微位移平台上, 还包括有反射测量光电探测器。 激光束经所述移动平面反射镜反射至所述分光镜组后, 还形成有反射激光束, 所述反射激光束射向所述反射测量光电探测器。

本申请的激光干涉仪, 由于反射测量光电探测器可以测量移动平面反射镜反射激光束的强度, 根据反射激光束的强度确定激光干涉光束的干涉状态, 如此实现抗环境干扰的目的。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
技术标签
专利基本信息
专利名称 一种磁性微位移平台式平面反射镜激光干涉仪
专利状态 - 专利号(申请号) CN201520452679.8
申请号 - 专利申请日期 2015-06-29
专利授权日期 2015-10-14 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 实用新型专利
发明人 周春艳;张白
权利人 -
专利摘要 本实用新型涉及一种精密测试技术及仪器领域,特别涉及一种磁性微位移平台式平面反射镜激光干涉仪,包括有激光源、微动平面反射镜、干涉测量光电探测器、移动平面反射镜、分光镜组和磁性微位移平台,所述微动平面反射镜设置在所述磁性微位移平台上,还包括有反射测量光电探测器,激光束经所述移动平面反射镜反射至所述分光镜组后还形成有反射激光束,所述反射激光束射向所述反射测量光电探测器。本申请的激光干涉仪,由于反射测量光电探测器可以测量移动平面反射镜反射激光束的强度,根据反射激光束的强度确定激光干涉光束的干涉状态,如此实现抗环境干扰的目的。
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