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扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术许可

专利申请日:2013-03-17

专利所属地 :中国

专利号:201310083608.0

应用领域:光学仪器制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本发明提供了一种扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法,具体步骤如下:

  1. 在扫描透射模式下旋转样品,以获得样品的会聚束衍射图;
  2. 将多通道高角环形暗场探测器置于光路中,调整衍射图的大小,使衍射斑点能够穿过环形探测器的中心圆孔;
  3. 扫描样品,同时采集高角环形暗场探测器各通道的信号;
  4. 舍弃包含菊池线信号的通道,并仅采用其余通道的信号;
  5. 对比扫描各点中可用通道的数量,对通道数量较少的点进行按比例的信号增强;
  6. 通过上述处理,得到最终的原子序数衬度像。

本发明的优点在于:通过采集的信号过滤,保留与样品原子序数相关的卢瑟福散射电子信号,同时排除各种衍射电子信号,从而显著提高原子序数衬度像的质量。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法
专利状态 - 专利号(申请号) 201310083608.0
申请号 - 专利申请日期 2013-03-17
专利授权日期 - 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 吴东昌;牛牧童;张锦平;黄凯;张燚;董晓鸣;曾雄辉;徐科
权利人 -
专利摘要 本发明提供了一种扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法,包括如下步骤:在扫描透射模式下旋转样品得到样品的会聚束衍射图;将多通道高角环形暗场探测器放入光路中,改变衍射图的大小,使衍射斑点从环形探测器的中心圆孔中穿过;扫描样品并采集高角环形暗场探测器各通道信号;舍弃包含菊池线信号的通道,并即采用其余通道的信号;对比扫描各点中可用通道的数量,对通道数量较少的点按比例进行信号增强,得到最终的原子序数衬度像。本发明的优点在于,将采集的信号进行过滤,保留与样品原子序数相关的卢瑟福散射电子的信号,排除各种衍射电子信号,从而提高原子序数衬度像的质量。
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