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一种基于偏振光时域反射技术中测量两点同频振动的方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2016-01-18

专利所属地 :中国

专利号:CN201610032900.3

应用领域:专用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本发明公开了一种基于偏振光时域反射技术(POTDR)中测量两点同频振动的方法。在多个连续的光脉冲输入下,首先得到后向散射光信号。接着,对每个位置上的后向散射信号的光强随时间的变化进行傅里叶变换,从而从后向散射信号的频谱上确定第一个振动点的位置及其频率。

然后,通过傅里叶变换得到的结果,计算该频率信号在第一个振动点之后的每个光纤位置的相位。通过对比相位的变化,实现对第二个同频振动信号的定位。

本发明无需对传感系统进行改进,即可采用简单基础的POTDR传感系统来测量第二个同频振动点的位置。此外,在多点振动的情况下,本发明能够分析出每个频率振动的第二个同频振动位置,且不同频率之间不会互相干扰。对于具有一定频谱宽度的同频振动,该方法同样适用。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种基于偏振光时域反射技术中测量两点同频振动的方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201610032900.3
申请号 - 专利申请日期 2016-01-18
专利授权日期 2016-06-08 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 王峰;潘运;张旭苹
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种基于偏振光时域反射技术中测量两点同频振动的方法,在多个连续的光脉冲输入下得到后向散射光信号,然后将每个位置上后向散射信号的光强随时间的变化做傅里叶变换,从后向散射信号的频谱上找到第一个振动点的位置和该振动点的频率;然后通过傅里叶变化得到的结果计算得到该频率信号在第一个振动点之后的每个光纤位置的相位,通过对比相位的变化,实现对第二个同频振动信号的定位。本发明无需改进传感系统,可以采用简单基础的POTDR传感系统测量第二个同频振动点的位置;可以在多点振动时,分析出每个频率的振动的第二个同频振动的位置,不同频率间不会互相干扰;对于有一定频谱宽度的同频振动同样适用。
成果评价分析
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