本发明公开了一种低采样率下基于插值的随机共振高频弱信号检测方法,属于信号检测领域。其特征在于包括以下步骤:
与现有的大参数随机共振要求采样率为信号频率的50倍相比较,本发明可将采样率降至信号频率的6-10倍,极大降低了采样电路的设计复杂度,节省了硬件开销,使系统的设计更简单,更易于实现。且单稳态随机共振系统的使用,更利于参数的调节,易于随机共振的实现。
| 专利名称 | 基于插值的随机共振高频弱信号检测方法 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN201410187783.9 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2014-05-06 |
| 专利授权日期 | 2017-02-15 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 李智;李健;刘志芳 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 本发明公开了一种低采样率下基于插值的随机共振高频弱信号检测方法,属于信号检测领域。其特征在于包括以下步骤:1)使用低采样率对高频待测信号进行采样;2)对采集得到的样本信号进行插值预处理,实现采样率的提升;3)将经过插值处理后的信号送入参数归一化单稳态随机共振系统中,增强弱信号,达到检测的目的。与现有的大参数随机共振要求采样率为信号频率的50倍相比较,本发明可将采样率降至信号频率的6-10倍,极大降低了采样电路的设计复杂度,节省了硬件开销,使系统的设计更简单,更易于实现。且单稳态随机共振系统的使用,更利于参数的调节,易于随机共振的实现。 | ||