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一种嵌入式系统白盒测试方法与平台

技术类型:非专利

技术成熟度:-

转让方式:-

应用领域:通用仪器仪表制造

技术领域:嵌入式软件

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

在测试基础理论与测试方法的方面,主要研究了嵌入式软件测试与普通软件测试的不同特性,包括实时性、可靠性、内存特性等。通过对比研究嵌入式软件测试的纯软件与纯硬件两种方法的优缺点,吸取了两种方法的优点,抛弃了它们的缺点,设计了一种新的测试方法,即:硬件辅助的嵌入式软件测试方法。

同时,针对嵌入式软件白盒测试的特性,研究了白盒测试的覆盖准则,研究了比修改条件的判定覆盖准则(MC/DC)测试强度更高的增强条件判定覆盖准则(RC/DC)。

在测试平台的研究方面,设计实现了基于FPGA+NIOSⅡ的测试桩数据硬件采集器,以及软件平台。实现了自动源程序分析、插桩、动态显示、测试结果文档生成等功能。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
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