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一种基于统计背景模型的目标检测方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2015-03-11

专利所属地 :中国

专利号:CN201510107283.4

应用领域:通用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本发明公开了一种基于统计背景模型的目标检测方法,该方法包括以下步骤:

  1. 针对光照变化,运用一种新的自适应高斯混合模型技术,构建基于全局信息的背景统计模型;
  2. 针对动态变化,在对背景图像基于自整定谱聚类的基础上,通过核密度估计方式,构建基于局部信息的背景统计模型。

本发明能在光照与动态扰动情况下,构建出一种稳健的背景模型,从而实现对前景目标的精确检测。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种基于统计背景模型的目标检测方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201510107283.4
申请号 - 专利申请日期 2015-03-11
专利授权日期 2015-06-17 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 朱松豪;李向向;胡学伟
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种基于统计背景模型的目标检测方法,该方法包括以下步骤:针对光照变化运用一种新的自适应高斯混合模型技术,构建基于全局信息的背景统计模型;针对动态变化,在对背景图像基于自整定谱聚类的基础上,通过核密度估计方式,构建基于局部信息的背景统计模型。本发明能在光照与动态扰动情况下,构建出一种稳健的背景模型,从而实现对前景目标的精确检测。
成果评价分析
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