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基于测深激光全波形数据的漫衰减系数提取方法及系统

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2017-01-20

专利所属地 :中国

专利号:CN201710041595.9

应用领域:专用仪器仪表制造

技术领域:电子信息

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

摘要:

本发明公开了基于测深激光全波形数据的漫衰减系数提取方法及系统。该方法包括以下步骤:

  1. 从测深激光数据中的全波形数据中筛选出有效的激光测深点;
  2. 从全波形数据中提取筛选出的每个有效激光测深点的发射强度和回波强度;
  3. 根据算法对回波强度提取后,生成水体后向散射波形对应的水体后向散射函数;
  4. 从单个激光测深点对应的水体后向散射函数中选取若干个预定时间间隔的时间点对;
  5. 计算每个时间点对的初始漫衰减系数;
  6. 根据各个时间点对的初始漫衰减系数的平均值,确定激光测深点的最终漫衰减系数。

本发明具有以下优点:

  • 可运用单个测深点的全波形数据即可计算出漫衰减系数值;
  • 不需要获取每个测深点的深度值和回波强度信息;
  • 漫衰减系数计算精度高。
(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
技术标签
专利基本信息
专利名称 基于测深激光全波形数据的漫衰减系数提取方法及系统
专利状态 - 专利号(申请号) CN201710041595.9
申请号 - 专利申请日期 2017-01-20
专利授权日期 2017-06-06 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 李清泉;丁凯;朱家松;汪驰升;王丹;崔扬
权利人 -
专利摘要 本发明公开了基于测深激光全波形数据的漫衰减系数提取方法及系统,方法包括:从测深激光数据中的全波形数据中筛选出有效的激光测深点;并从全波形数据提取筛选出的每个有效的激光测深点的发射强度和回波强度,根据算法对回波强度提取后生成水体后向散射波形对应的水体后向散射函数;从单个激光测深点对应的水体后向散射函数中选取若干个预定时间间隔的时间点对,计算每个时间点对的初始漫衰减系数;根据各个时间点对的初始漫衰减系数的平均值为激光测深点的最终漫衰减系数。本发明可运用单个测深点的全波形数据即可计算出漫衰减系数值,而且不需要获取每个测深点的深度值和回波强度信息,漫衰减系数计算精度高。
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