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成果概况
简介
智能集成芯片测试仪
成果介绍: 在实验中,由于学生初学电路,使用过程中,存在很多偶然的低级错误,造成芯片的损伤,给后面的实验造成很多麻烦。因此,在实验过程中,为了排除这类因素,节省教学时间,可以使用此款芯片测试仪对芯片的功能进行校验。除此之外,芯片测试仪支持芯片自动查找功能,查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计,芯片库可在线实时更新,简单易用。除了用在实验室外,此芯片测试仪还可用于芯片的检测维修等场合。
通用 IC 集成电路芯片测试仪: 用一个 DIP40 脚的插座,可实现通用集成电路的测试,譬如 74 系列,54 系列,常用的 AD 转换器,DA 转换器,放大器,比较器,三极管,光耦等。
应用领域: 该测试仪可应用于高校电子电路实验室、高校计算机实验室、职业学院电子电路实验室、中专职校计算机实验室、常用芯片维修测试。
智能集成芯片测试仪。
成果介绍:
在实验中,由于学生初学电路,使用过程中,存在很多偶然的低级错误,造 成芯片的损伤,给后面的实验造成很多麻烦,所以在实验过程中,为了排除这类 因素,节省教学时间,可以使用此款芯片测试仪对芯片的功能进行校验。除此之 外,芯片测试仪支持芯片自动查找功能,查找成功后会自动显示芯片的型号。 测 试仪软硬件独立设计,芯片库可在线实时更新,简单易用。除了用在实验室外, 此芯片测试仪还可用于芯片的检测维修等场合。
通用 IC 集成电路芯片测试仪,用一个 DIP40 脚的插座,可实现通用集成芯 片的测试,譬如 74 系列,54 系列,常用的 AD 转换器,DA 转换器,放大器, 比较器,三极管,光耦等。
该测试仪可应用于高校电子电路实验室、高校计算机实验室、职业学院电子 电路实验室、中专职校计算机实验室、常用芯片维修测试。
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原文)
专利基本信息
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专利号(申请号) |
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专利申请日期 |
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专利权届满日 |
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专利类型 |
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