当前位置: 首页 > 科技成果列表 > 科技成果详细

智能集成芯片测试仪

技术类型:非专利

技术成熟度:小试

转让方式:技术许可

应用领域:其他信息技术服务业

技术领域:电子信息

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

了解与分析本科技成果,可查看成果概况并使用以下技术转移数智化应用工具:
成果概况
简介

智能集成芯片测试仪

成果介绍: 在实验中,由于学生初学电路,使用过程中,存在很多偶然的低级错误,造成芯片的损伤,给后面的实验造成很多麻烦。因此,在实验过程中,为了排除这类因素,节省教学时间,可以使用此款芯片测试仪对芯片的功能进行校验。除此之外,芯片测试仪支持芯片自动查找功能,查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计,芯片库可在线实时更新,简单易用。除了用在实验室外,此芯片测试仪还可用于芯片的检测维修等场合。

通用 IC 集成电路芯片测试仪: 用一个 DIP40 脚的插座,可实现通用集成电路的测试,譬如 74 系列,54 系列,常用的 AD 转换器,DA 转换器,放大器,比较器,三极管,光耦等。

应用领域: 该测试仪可应用于高校电子电路实验室、高校计算机实验室、职业学院电子电路实验室、中专职校计算机实验室、常用芯片维修测试。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
相关图片
成果评价分析
技术应用分析
服务案例
Baidu
map