当前位置: 首页 > 科技成果列表 > 科技成果详细

一种CT投影中心的自动校正方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2008-05-21

专利所属地 :中国

专利号:CN200810112193.4

应用领域:通用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

了解与分析本科技成果,可查看成果概况并使用以下技术转移数智化应用工具:
成果概况
简介

摘要:

本发明提供一种CT投影中心的自动校正方法,具体步骤如下:

  1. 使用CT对被测物进行全周扫描,获得在不同角度下被测物在探测器阵列的各探测器单元的投影原始数据。

  2. 对所述投影原始数据进行数据处理,识别出在所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置。

  3. 根据所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置,计算出CT投影中心,并对所述投影原始数据进行校正,最终得到二维断层数据。

本发明无需采用专用模体,且无需移动被测物,即可对CT的中心投影位置进行校正。此外,本发明的各校正步骤可以编入重建前处理程序中自动运行,从而节约了测量时间,并延长了射线源及探测器的有效工作寿命。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种CT投影中心的自动校正方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN200810112193.4
申请号 - 专利申请日期 2008-05-21
专利授权日期 2009-11-25 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 孟凡勇;王维;李静海
权利人 -
专利摘要 本发明提供一种CT投影中心的自动校正方法,包括如下步骤:1)使用CT对被测物进行全周扫描,得到在不同角度下被测物在探测器阵列的各探测器单元的投影原始数据;2)对所述投影原始数据进行数据处理,找出在所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置;3)根据所述被测物边缘的投影点在所述探测器阵列中的位置计算出CT投影中心并对所述投影原始数据进行校正,得到最终的二维断层数据。本发明无需采用专用模体,无需移动被测物,即可对CT的中心投影位置进行校正,而且本发明的各校正步骤可以编入重建前处理程序自动运行,节约了测量时间,延长了射线源及探测器的有效工作寿命。
成果评价分析
技术应用分析
服务案例
Baidu
map