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一种快速判断废品率的作图方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2016-02-26

专利所属地 :中国

专利号:CN201610104995.5

应用领域:通用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

摘要:

本发明公开了一种快速判断废品率的作图方法,一种基于LabVIEW的正态分布曲线与公差带图二维多线段组合显示的作图方法。正态分布曲线的表达式为:y = (1 / (σ√2π)) * e^(- (x - μ)² / (2σ²)) - - - (1),其中,μ、σ是正态分布曲线的两个重要参数。μ影响曲线的位置,表示尺寸分散中心的位置;σ确定曲线的形状,表示尺寸分散范围大小。正态分布曲线的分布范围为μ±3σ。μ±3σ的大小代表了某一种加工方法在规定的条件下所能达到的加工精度。

在一般情况下,应使公差带的宽度T和σ之间具有下列关系:6σ≤T。如果尺寸分散带大于零件的公差带T,则将有废品产生。

本发明技术效果是:效率高、成本低,界面友好,可视化、操作方便。可扩展为两个二维多线段图形的组合显示,通过可视化的作图快速提高判断废品率。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种快速判断废品率的作图方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201610104995.5
申请号 - 专利申请日期 2016-02-26
专利授权日期 2016-07-20 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 万文;路冬;宋文庆;高延峰
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种快速判断废品率的作图方法,一种基于LabVIEW的正态分布曲线与公差带图二维多线段组合显示的作图方法,正态分布曲线表达式为y=1σ2πe-12(x-μσ)2---(1),]]>μ、σ是正态分布曲线的两个重要参数,μ影响曲线的位置,表示尺寸分散中心的位置。σ确定曲线的形状,表示尺寸分散范围大小。正态分布曲线的分布范围为μ±3σ。μ±3σ的大小代表了某一种加工方法在规定的条件下所能达到的加工精度。所以在一般情况下,应使公差带的宽度T和σ之间具有下列关系:6σ≤T,如果尺寸分散带大于零件的公差带T,则将有废品产生。本发明技术效果是:效率高、成本低,界面友好,可视化、操作方便,可扩展为两个二维多线段图形的组合显示,通过可视化的作图快速提高判断废品率。
成果评价分析
技术应用分析
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