摘要:
本发明公开了一种快速判断废品率的作图方法,一种基于LabVIEW的正态分布曲线与公差带图二维多线段组合显示的作图方法。正态分布曲线的表达式为:y = (1 / (σ√2π)) * e^(- (x - μ)² / (2σ²)) - - - (1),其中,μ、σ是正态分布曲线的两个重要参数。μ影响曲线的位置,表示尺寸分散中心的位置;σ确定曲线的形状,表示尺寸分散范围大小。正态分布曲线的分布范围为μ±3σ。μ±3σ的大小代表了某一种加工方法在规定的条件下所能达到的加工精度。
在一般情况下,应使公差带的宽度T和σ之间具有下列关系:6σ≤T。如果尺寸分散带大于零件的公差带T,则将有废品产生。
本发明技术效果是:效率高、成本低,界面友好,可视化、操作方便。可扩展为两个二维多线段图形的组合显示,通过可视化的作图快速提高判断废品率。
| 专利名称 | 一种快速判断废品率的作图方法 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN201610104995.5 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2016-02-26 |
| 专利授权日期 | 2016-07-20 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 万文;路冬;宋文庆;高延峰 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 本发明公开了一种快速判断废品率的作图方法,一种基于LabVIEW的正态分布曲线与公差带图二维多线段组合显示的作图方法,正态分布曲线表达式为y=1σ2πe-12(x-μσ)2---(1),]]>μ、σ是正态分布曲线的两个重要参数,μ影响曲线的位置,表示尺寸分散中心的位置。σ确定曲线的形状,表示尺寸分散范围大小。正态分布曲线的分布范围为μ±3σ。μ±3σ的大小代表了某一种加工方法在规定的条件下所能达到的加工精度。所以在一般情况下,应使公差带的宽度T和σ之间具有下列关系:6σ≤T,如果尺寸分散带大于零件的公差带T,则将有废品产生。本发明技术效果是:效率高、成本低,界面友好,可视化、操作方便,可扩展为两个二维多线段图形的组合显示,通过可视化的作图快速提高判断废品率。 | ||