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成果概况
简介
摘要:
本发明公开了一种单脉冲测量材料非线性折射的方法。在探测光路中增加一相位物体,在一个单脉冲作用下,通过测量远场小孔的非线性透过率,可以确定材料的非线性折射系数。
按本发明方法工作的测量系统具有以下优点:
- 光路简单:测量系统结构简单,便于搭建和维护。
- 数据处理简单:通过测量数据即可得出非线性折射系数,无需复杂的计算过程。
- 单脉冲测量:仅需一个脉冲即可完成测量,提高了测量效率。
- 样品无需移动:样品在测量过程中无需移动,简化了操作过程。
- 同时测量大小和符号:可以同时测量非线性折射的大小和符号,提高了测量的全面性。
- 测量结果精确:通过精确的测量方法,保证了测量结果的准确性。
- 极大减少测量成本:相较于传统测量方法,本发明在保证测量精度的同时,大幅降低了测量成本。
综上所述,本发明在测量材料非线性折射方面具有显著优势,具有较高的实用价值和应用前景。
摘要:本发明公开了一种单脉冲测量材料非线性折射的方法,在探测光路中增加一相位物体,在一个单脉冲作用下,通过测量远场小孔的非线性透过率,可以确定材料的非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单,单脉冲测量、样品无需移动,可以同时测量非线性折射的大小和符号,测量结果精确,极大的减少测量成本等优点。
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原文)
专利基本信息
| 专利名称 |
单脉冲测量材料非线性折射的方法 |
| 专利状态 |
- |
专利号(申请号) |
CN200910028325.X |
| 申请号 |
- |
专利申请日期 |
2009-01-08 |
| 专利授权日期 |
2009-07-15 |
专利权届满日 |
- |
| 专利所属地 |
中国 |
专利类型 |
发明专利 |
| 发明人 |
宋瑛林;杨俊义;金肖;税敏;李常伟 |
| 权利人 |
- |
| 专利摘要 |
本发明公开了一种单脉冲测量材料非线性折射的方法,在探测光路中增加一相位物体,在一个单脉冲作用下,通过测量远场小孔的非线性透过率,可以确定材料的非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单,单脉冲测量、样品无需移动,可以同时测量非线性折射的大小和符号,测量结果精确,极大的减少测量成本等优点。 |