一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器

摘要： 一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，其结构包括以下部分：激光器，用于发射激光作为输入光；起偏器，作用于输入光，输出竖直偏振光；电光晶体，响应于电压，作用于输入光场的相位；1/4波片，作用于竖直偏振光在光场分量上的相位；检偏器，响应于输入光，输出水平偏振光；相位检测器，作用于光场的分量，输出其相位差；控制器，作用是相位信号输出电压信号。

本实用新型的功能如下：在电光晶体通电情况下，电光晶体内的折射率发生变化，导致经过电光晶体的光在相位分量上产生相位差。最终，通过相位检测器和控制器，可以计算出所加电压的大小。

本实用新型具有以下特点：测量精度高，非接触性光学测量，以及高压检测能力。

摘要：一种基于纵向电光晶体调制的电压检测器，包括：激光器，其用于发射激光作为输入光；起偏器，其作用于输入光而输出竖直偏振光；电光晶体，其响应于电压作用于输入光场的相位；1/4波片，其作用于竖直偏振光在光场分量上的相位；检偏器，其响应于输入光而输出水平偏振光；相位检测器，其作用于光场的分量输出其相位差；控制器，其作用相位信号输出电压信号。本实用新型的作用是：在电光晶体通电情况下，电光晶体内的折射率发生变化，使经过电光晶体的光在相位分量上产生相位差，最后通过相位检测器和控制器计算出所加电压的大小。本实用新型具有测量精度高，非接触性光学测量和高压检测的特点。