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一种可用于存储单元的多层量子点结构浮置栅

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2007-05-15

专利所属地 :中国

专利号:CN200710099175.2

应用领域:其他电气机械及器材制造

技术领域:电子信息

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本发明涉及一种可用于存储单元的多层量子点结构浮置栅,包括以下部分:

  1. 一下部缓冲层;
  2. 在其上依次生长的第一量子点生长层;
  3. 第一填充介质层;
  4. 中间层;
  5. 第二量子点生长层;
  6. 第二填充介质层;
  7. 顶部填埋保护层。

所述的用于存储单元的多层量子点结构浮置栅的横截面形状可为矩形环、椭圆环或正六边形环。

本发明还涉及一种以上述多层量子点结构浮置栅为存储单元的基于多层量子点的抗辐射非易失性存储器和微磁性传感器。

本发明提供的用于存储单元的多层量子点结构浮置栅,及基于此的抗辐射非易失性存储器和微磁性传感器,具有以下优点:

  1. 克服了漏电问题;
  2. 解决了量子点间耦合所造成的信息存储失效问题;
  3. 具有抗辐射能力。
(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种可用于存储单元的多层量子点结构浮置栅
专利状态 - 专利号(申请号) CN200710099175.2
申请号 - 专利申请日期 2007-05-15
专利授权日期 2008-11-19 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 刘东屏;赵静;莎麦菈;韩秀峰;陈坤基
权利人 -
专利摘要 本发明涉及一种可用于存储单元的多层量子点结构浮置栅,包括一下部缓冲层,及在其上依次生长的第一量子点生长层、第一填充介质层、中间层、第二量子点生长层、第二填充介质层和顶部填埋保护层;所述的用于存储单元的多层量子点结构浮置栅的横截面为矩形环、椭圆环或正六边形环。本发明还涉及一种以上述多层量子点结构浮置栅为存储单元的基于多层量子点的抗辐射非易失性存储器和微磁性传感器。本发明提供的用于存储单元的多层量子点结构浮置栅,及基于此的抗辐射非易失性存储器和微磁性传感器克服了漏电问题、解决了量子点间耦合所造成的信息存储失效问题,且具有抗辐射能力。
成果评价分析
技术应用分析
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