本发明公开了一种用于水蜜桃褐腐病缺陷检测的特征角余弦值方法。
提取水蜜桃高光谱图像中660nm、680nm及700nm波段的图像,对680nm波段图像进行单阈值分割,得到水果区域;
对这3个波段图像的水果区域进行3×3均值滤波,并对其光谱作均值归一化处理;
取水果区域内的一个像素点,以波长值为横坐标,光谱归一化值为纵坐标,以其三点A(λA,RA)、B(λB,RB)、C(λC,RC)所形成的夹角∠ABC为特征角,将特征角的余弦值作为特征值,对图像水果区域内像素进行分类,实现褐腐病缺陷检测。
仅用3个波段实现水蜜桃褐腐病缺陷检测,降低检测成本,消除水蜜桃表面着色的干扰,本发明可用于如苹果等含有叶绿素的水果的缺陷检测。
| 专利名称 | - | ||
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| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN102890092A |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2012-10-12 |
| 专利授权日期 | 2014-12-17 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | - | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | - | ||