摘要:
本发明公开了一种基于ZnO薄膜的集成式中子探测器及其制备方法。首先,制备ZnO薄膜光导型紫外探测器。接着,在其上采用射频磁控溅射法制备表面均匀、结晶质量和闪烁性能良好的B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜。这一步骤为实现一种B、Ga共掺ZnO闪烁体薄膜/ZnO薄膜光导紫外探测器结构的中子探测器提供了方法。
在本发明中,中子探测器采用B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜作为中子转化层,将中子转化成α粒子。随后,α粒子进一步激发B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜产生紫外线。最终,利用ZnO薄膜光导型紫外探测器探测这些紫外线,从而实现中子探测。
| 专利名称 | 基于ZnO薄膜的集成式中子探测器及其制备方法 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN201510365453.9 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2015-06-29 |
| 专利授权日期 | 2015-12-16 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 黄健;张磊;杨瑾;陈梦斐;张淑玮;任兵;王宇彤;胡艳;王林军 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 本发明公开了一种基于ZnO薄膜的集成式中子探测器及其制备方法,首先制备ZnO薄膜光导型紫外探测器,并在其上采用射频磁控溅射法制备表面均匀,结晶质量和闪烁性能良好的B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜,从而为实现一种B、Ga共掺ZnO闪烁体薄膜/ZnO薄膜光导紫外探测器结构的中子探测器提供了方法。本发明中子探测器采用B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜作为中子转化层将中子转化成α粒子,α粒子进一步激发B、Ga共掺杂ZnO闪烁体薄膜产生紫外线,再利用ZnO薄膜光导型紫外探测器探测紫外线,从而实现中子探测。 | ||