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一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2016-01-28

专利所属地 :中国

专利号:CN201610059148.1

应用领域:化学原料和化学制品制造业

技术领域:新材料

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

一种提高ZnO2N薄膜迁移率和稳定性的方法,具体步骤如下:

  1. 采用三明治结构的ZnO2N薄膜,其中三明治结构的基底上夹层为富氮ZnO2N薄膜,夹层上部的覆盖层为富氧ZnO2N薄膜。

  2. 使用反应射频磁控溅射技术制备三明治结构的ZnO2N薄膜。

  3. 以纯度为99.999%的锌靶作为溅射靶材。

  4. 在生长ZnO2N薄膜之前,对高纯锌靶材进行氩离子束预溅射,持续时间为5-15分钟。

  5. 通过两步反应射频磁控溅射生长方法实现薄膜的制备:

    • 第一步:生长制备非晶富氮ZnO2N薄膜。
    • 第二步:制备富氧ZnO2N多晶薄膜。
  6. 通过减小薄膜体内和晶界缺陷密度,最终得到具有高迁移率和高稳定性的ZnO2N薄膜材料。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201610059148.1
申请号 - 专利申请日期 2016-01-28
专利授权日期 2016-04-27 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 叶建东;程丽娜;朱顺明;汤琨;任芳芳;顾书林;郑有炓
权利人 -
专利摘要 一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,包括以下步骤:采用三明治结构的ZnON薄膜,三明治结构基底上的夹层为富氮ZnON薄膜,夹层上部的覆盖层为富氧ZnON薄膜,采用反应射频磁控溅射制备三明治结构的ZnON薄膜,以纯度为99.999%的锌靶为溅射靶材,生长ZnON薄膜前对高纯锌靶材利用氩离子束预溅射5-15分钟;通过两步反应射频磁控溅射生长的方法,第一步生长制备的非晶富氮ZnON薄膜;第二步制备富氧ZnON多晶薄膜;减小了薄膜体内和晶界缺陷密度,从而得到具有高迁移率、高稳定性的ZnON薄膜材料。
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