一种提高ZnO2N薄膜迁移率和稳定性的方法,具体步骤如下:
采用三明治结构的ZnO2N薄膜,其中三明治结构的基底上夹层为富氮ZnO2N薄膜,夹层上部的覆盖层为富氧ZnO2N薄膜。
使用反应射频磁控溅射技术制备三明治结构的ZnO2N薄膜。
以纯度为99.999%的锌靶作为溅射靶材。
在生长ZnO2N薄膜之前,对高纯锌靶材进行氩离子束预溅射,持续时间为5-15分钟。
通过两步反应射频磁控溅射生长方法实现薄膜的制备:
通过减小薄膜体内和晶界缺陷密度,最终得到具有高迁移率和高稳定性的ZnO2N薄膜材料。
| 专利名称 | 一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN201610059148.1 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2016-01-28 |
| 专利授权日期 | 2016-04-27 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 叶建东;程丽娜;朱顺明;汤琨;任芳芳;顾书林;郑有炓 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,包括以下步骤:采用三明治结构的ZnON薄膜,三明治结构基底上的夹层为富氮ZnON薄膜,夹层上部的覆盖层为富氧ZnON薄膜,采用反应射频磁控溅射制备三明治结构的ZnON薄膜,以纯度为99.999%的锌靶为溅射靶材,生长ZnON薄膜前对高纯锌靶材利用氩离子束预溅射5-15分钟;通过两步反应射频磁控溅射生长的方法,第一步生长制备的非晶富氮ZnON薄膜;第二步制备富氧ZnON多晶薄膜;减小了薄膜体内和晶界缺陷密度,从而得到具有高迁移率、高稳定性的ZnON薄膜材料。 | ||