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一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2009-12-14

专利所属地 :中国

专利号:CN200910273200.3

应用领域:专用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

摘要: 本发明公开了一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法,其特征在于,该方法包括下述步骤为: 1. 第1步:以TlBr为原料,配制Tl(III)的母液,母液中含Tl(III)量为1~3mg/mL; 2. 第2步:以母液1mL计,在1mL母液中加入10mL浓度为3.6~8.1mol/L的HBr和10~35mL的异丙醚,振荡均匀,静置分层后分离出水相; 3. 第3步:利用电感耦合等离子体质谱仪测量水相中各杂质的含量。

本发明方法可使溴化铊材料中的基体元素铊的含量达到ICP-MS的测试要求,检测出材料中的各杂质的含量。

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专利基本信息
专利名称 一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN200910273200.3
申请号 - 专利申请日期 2009-12-14
专利授权日期 2010-06-23 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 周东祥;郑志平;龚树萍;蒙芳;胡云香
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法,其特征在于,该方法包括下述步骤为:第1步以TlBr为原料,配制Tl(III)的母液,母液中含Tl(III)量为1~3mg/mL;第2步以母液1mL计,在1mL母液中加入10mL浓度为3.6~8.1mol/L的HBr和10~35mL的异丙醚,振荡均匀,静置分层后分离出水相;第3步利用电感耦合等离子体质谱仪测量水相中各杂质的含量。本发明方法可使溴化铊材料中的基体元素铊的含量达到ICP-MS的测试要求,检测出材料中的各杂质的含量。
成果评价分析
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