本实用新型实施例公开了一种用于电子背散射衍射仪的样品台,该样品台适用于岩石样品分析测试领域。它能够在保证实验安全性的同时,满足样品尺寸大、导电性差的样本进行有标样的测试需求。
具体包括以下特点:
本实用新型适用于尺寸大、导电性差的样本的有标样测试。
| 专利名称 | 一种用于电子背散射衍射仪的样品台 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号(申请号) | CN201620321716.6 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2016-04-15 |
| 专利授权日期 | 2016-11-23 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 实用新型专利 |
| 发明人 | 李娟;王勤;陆现彩;陆建军 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 本实用新型实施例公开了一种用于电子背散射衍射仪的样品台,涉及岩石样品分析测试领域,能够在保证实验的安全性的同时满足样品尺寸大、导电性差的样本进行有标样的测试需求。本实用新型包括:样品台的固定面与底座呈70°夹角,固定面上开有凹槽,凹槽用于安装并固定薄片样品,凹槽与薄片样品的尺寸吻合;凹槽的深度与薄片样品的厚度一致,当薄片样品安装在凹槽中时,薄片样品的待测表面与固定面的表面处于同一平面。固定面上开有用于安装单晶硅标样的标样凹槽,标样凹槽的深度与单晶硅标样的厚度一致,当单晶硅标样安装在标样凹槽中时,单晶硅标样的待测表面与固定面的表面处于同一平面。本实用新型适用于尺寸大、导电性差的样本的有标样测试。 | ||