当前位置: 首页 > 科技成果列表 > 科技成果详细

一种用于电子背散射衍射仪的样品台

技术类型:实用新型专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2016-04-15

专利所属地 :中国

专利号:CN201620321716.6

应用领域:专用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

了解与分析本科技成果,可查看成果概况并使用以下技术转移数智化应用工具:
成果概况
简介

本实用新型实施例公开了一种用于电子背散射衍射仪的样品台,该样品台适用于岩石样品分析测试领域。它能够在保证实验安全性的同时,满足样品尺寸大、导电性差的样本进行有标样的测试需求。

具体包括以下特点:

  1. 样品台的固定面与底座呈70°夹角。
  2. 固定面上开有凹槽,用于安装并固定薄片样品。凹槽的尺寸与薄片样品相吻合。
  3. 凹槽的深度与薄片样品的厚度一致,确保当薄片样品安装在凹槽中时,其待测表面与固定面的表面处于同一平面。
  4. 固定面上还开有用于安装单晶硅标样的标样凹槽。标样凹槽的深度与单晶硅标样的厚度一致。
  5. 当单晶硅标样安装在标样凹槽中时,其待测表面也与固定面的表面处于同一平面。

本实用新型适用于尺寸大、导电性差的样本的有标样测试。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种用于电子背散射衍射仪的样品台
专利状态 - 专利号(申请号) CN201620321716.6
申请号 - 专利申请日期 2016-04-15
专利授权日期 2016-11-23 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 实用新型专利
发明人 李娟;王勤;陆现彩;陆建军
权利人 -
专利摘要 本实用新型实施例公开了一种用于电子背散射衍射仪的样品台,涉及岩石样品分析测试领域,能够在保证实验的安全性的同时满足样品尺寸大、导电性差的样本进行有标样的测试需求。本实用新型包括:样品台的固定面与底座呈70°夹角,固定面上开有凹槽,凹槽用于安装并固定薄片样品,凹槽与薄片样品的尺寸吻合;凹槽的深度与薄片样品的厚度一致,当薄片样品安装在凹槽中时,薄片样品的待测表面与固定面的表面处于同一平面。固定面上开有用于安装单晶硅标样的标样凹槽,标样凹槽的深度与单晶硅标样的厚度一致,当单晶硅标样安装在标样凹槽中时,单晶硅标样的待测表面与固定面的表面处于同一平面。本实用新型适用于尺寸大、导电性差的样本的有标样测试。
成果评价分析
技术应用分析
服务案例
Baidu
map