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一种利用缓冲层优化硅衬底上氮化铌薄膜超导性能的方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2013-05-22

专利所属地 :中国

专利号:CN201310191941.3

应用领域:化学原料和化学制品制造业

技术领域:新材料

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本发明公开了一种利用缓冲层优化硅衬底上氮化铌薄膜超导性能的方法,包括如下步骤:

  1. 在高阻硅衬底上,通过磁控溅射技术制备六氮五铌薄膜作为缓冲层;
  2. 在真空室中,采用原位磁控溅射技术制备氮化铌薄膜。

本发明通过在高阻硅衬底上,利用磁控溅射技术制备六氮五铌薄膜作为缓冲层,明显提高了氮化铌薄膜的超导性能。特别是在超薄薄膜性能上,提高效果更加显著。

此外,本发明也可推广至其他基片上,以提高氮化铌薄膜的超导性能。该方法简单易行,效果明显。

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技术标签
专利基本信息
专利名称 一种利用缓冲层优化硅衬底上氮化铌薄膜超导性能的方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201310191941.3
申请号 - 专利申请日期 2013-05-22
专利授权日期 2013-09-04 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 贾小氢;康琳;涂学凑;顾敏;杨小忠;吴培亨
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种利用缓冲层优化硅衬底上氮化铌薄膜超导性能的方法,包括如下步骤:在高阻硅衬底上,通过磁控溅射六氮五铌薄膜作为缓冲层;在真空室中原位磁控溅射氮化铌薄膜。本发明在高阻硅衬底上,通过磁控溅射六氮五铌薄膜缓冲层,明显提高了氮化铌薄膜的超导性能,特别在超薄薄膜性能上提高更加明显。本发明也可推广到其他基片上提高氮化铌薄膜的超导性能,简单易行,效果明显。
成果评价分析
技术应用分析
服务案例
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