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基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验的方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2014-04-16

专利所属地 :中国

专利号:CN201410152752.X

应用领域:专用仪器仪表制造

技术领域:-

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本发明公开了一种基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验方法,具体步骤如下:

  1. 设定置信度数值和样品数量;
  2. 对目标试样进行高加速寿命试验,获取最高极限温度应力水平;
  3. 设定恒定湿度应力、多个步降温度应力水平及试验总时间,并设定各温度应力的步长时间及测量时间节点;
  4. 测量目标试样的光通量初始值,获取光通量衰减轨迹数据;
  5. 进行衰减机理指标检验;
  6. 计算目标试样伪失效寿命;
  7. 对伪失效寿命进行分布检验,选择合适的分布函数;
  8. 结合阿伦尼斯温度加速模型,得到目标试样的可靠度分布函数、平均寿命及中位寿命。

该方法能够改善步进应力试验方法在LED照明产品上应用的柔性和通用性,进一步缩短加速试验时间,并提高加速试验评估寿命预测的精度。

(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验的方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201410152752.X
申请号 - 专利申请日期 2014-04-16
专利授权日期 2014-07-23 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 蔡苗;杨道国;田坤淼;陈文彬;贾洪亮;张维海
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种基于多水平步降应力的LED照明产品加速衰减试验的方法,包括如下步骤:1)设定置信度数值和样品数量;2)对目标试样进行高加速寿命试验,得到最高极限温度应力水平;3)设定恒定湿度应力、多个步降温度应力水平及试验总时间,设定各温度应力的步长时间及测量时间节点;4)测量目标试样的光通量初始值,得到光通量衰减轨迹数据;5)进行衰减机理指标检验;6)计算目标试样伪失效寿命;7)对伪失效寿命进分布检验,选择分布函数;8)结合阿伦尼斯温度加速模型得到目标试样可靠度分布函数、平均寿命及中位寿命。这种方法能改善步进应力试验方法在LED照明产品上应用的柔性和通用性,进一步缩短加速时长和提高加速试验评估寿命预测精度。
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