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一种交叉光轴光栅投影测量仿真系统及其实现方法

技术类型:发明专利

技术成熟度:研发

转让方式:技术转让、技术许可、技术入股

专利申请日:2016-10-12

专利所属地 :中国

专利号:CN201610888330.8

应用领域:其他仪器仪表制造业

技术领域:电子信息

交易价格:面议专利价值评估

应用案例:否

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成果概况
简介

本发明公开了一种交叉光轴光栅投影测量仿真系统。所谓交叉光轴,是指该系统中投影机光轴和照相机光轴的相互位置是交叉的,这一设计克服了现有仿真系统中两光轴必须相交于一点的缺点。

该系统以Windows系统为开发平台,通过逆光线追迹法,运用计算机编程语言,实现了以下功能:

  1. 编写光栅投影模块;
  2. 模拟被测物体和工作台模块;
  3. 图像采集模块。

通过这些模块的协同工作,实现了具有高精度的光栅投影测量仿真系统。

该仿真系统具有以下特点:

  • 不需要投影机光轴和照相机光轴相交于一点,即可实现交叉光轴式光栅投影测量系统的仿真;
  • 能够仿真出物体在测量过程中阴影区域出现的位置;
  • 对物体表面上阴影区域的判别和工作台上阴影区域的判别,采用了不同的判别方法;
  • 提高了阴影区域判别的精度和判别速度。
(此文字表达经过AI优化完善,查看原文请点击 原文)
专利基本信息
专利名称 一种交叉光轴光栅投影测量仿真系统及其实现方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN201610888330.8
申请号 - 专利申请日期 2016-10-12
专利授权日期 2017-08-11 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明专利
发明人 李文国;陈迎春;杨其乐;陈田
权利人 -
专利摘要 本发明公开了一种交叉光轴光栅投影测量仿真系统(所谓交叉光轴是该系统中投影机光轴和照相机光轴的相互位置是交叉的,克服了现有仿真系统中两光轴必须相交于一点的缺点),以windows系统为开发平台,通过逆光线追迹法,运用计算机编程语言,通过编写光栅投影模块、模拟被测物体和工作台模块、图像采集模块,实现具有高精度的光栅投影测量仿真系统。该仿真系统不需要投影机光轴和照相机光轴相交于一点,能够实现交叉光轴式光栅投影测量系统的仿真。该系统能够仿真出物体在测量过程中阴影区域出现的位置,并且对物体表面上阴影区域的判别和工作台上阴影区域的判别应用了不同的判别方法,提高了阴影区域判别的精度和判别速度。
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