{{item.name}}
科技成果评价
专利价值评估
科创项目研判
产品技术图谱
产业链全景图谱
行业需求挖掘
企业创新综合分析
产业发展报告
了解与分析本科技成果，可查看成果概况并使用以下技术转移数智化应用工具：
成果概况
简介
本发明公开了一种监测GIS局部放电的超高频传感器布点方法，属于GIS局部放电监测的布点方法。
该布点方法将GIS拓扑结构抽象为无向图，找到测距临界点，分别以最大可观性和检测最可靠为约束条件建立测量点布置的0-1规划模型，求解得到采用多个检测点同步进行局部放电定位的测量点布置方案。
本发明设可以利用多个测量点信息进行综合局部放电定位。
(此文字表达经过AI优化完善，查看原文请点击
原文)
技术标签
专利基本信息
| 专利名称 | 一种监测GIS局部放电的超高频传感器布点方法 | ||
|---|---|---|---|
| 专利状态 | - | 专利号（申请号） | CN201710291736.2 |
| 申请号 | - | 专利申请日期 | 2017-04-28 |
| 专利授权日期 | 2017-08-11 | 专利权届满日 | - |
| 专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明专利 |
| 发明人 | 梁睿;李意;吴胜磊;聂鹏飞;迟鹏;陈培阳;宋超然;谢添;刘成磊 | ||
| 权利人 | - | ||
| 专利摘要 | 本发明公开了一种监测GIS局部放电的超高频传感器布点方法，属于GIS局部放电监测的布点方法。该布点方法将GIS拓扑结构抽象为无向图，找到测距临界点，分别以最大可观性和检测最可靠为约束条件建立测量点布置的0‑1规划模型，求解得到采用多个检测点同步进行局部放电定位的测量点布置方案。本发明设可以利用多个测量点信息进行综合局部放电定位。 | ||
成果评价分析
成果评价分析
样例
技术应用分析
技术应用分析
样例
相关资源数据
资源加工
产业分析服务
科技招商
评估评价
经纪赋能
科技活动
智能制造
企业服务
专业经纪服务