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专利基本信息
专利名称 基于测距传感器的复杂曲面叶片迭代扫描测量方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN107726974B
专利申请日期 2017-09-15 专利类型 发明专利
申请公布号 2017108308349 申请公布日 2017-09-15
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 何万涛;郭延艳;车向前;孟祥林;边莉;赵灿;季旭
专利权人 黑龙江科技大学
专利摘要 一种基于测距传感器的复杂曲面叶片迭代扫描测量方法,不需要坐标系配准,克服测量景深引起的测量精度差的问题。采用的方法是,通过测距传感器在Z轴坐标值恒定的状态下进行直接扫描测量获取部分点,采用三次B样条插值拟合曲线作为测量路径进行再次扫描测量,通过判断直到测量值满足设定阈值要求后,完成该次扫描。通过不断的循环与角度调整,完成叶片表面的整体数据扫描。本发明的有益效果是:克服了采用测距传感器测量复杂曲面时的致命的缺点,不需要进行过程繁琐、耗时和不稳定的坐标系配准。充分利用了点激光测距传感器能够直接测量强反光表面的特性,实现了复杂曲面叶片的高精度、快速测量。
专利价值评估分析
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