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专利基本信息
专利名称 一种真空紫外光谱辐射计校准方法及装置
专利状态 - 专利号(申请号) CN106885632A
专利申请日期 2017-03-03 专利类型 发明专利
申请公布号 CN201710125038.5 申请公布日 2017-03-03
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 孙广尉,孙红胜,王加朋,张玉国,吴柯萱,杜继东,郭亚玭
专利权人 北京振兴计量测试研究所
专利摘要 本发明涉及一种真空紫外光谱辐射计校准方法及装置,所述方法包括:光谱辐射亮度响应度校准、光谱辐射照度响应度校准和/或波长准确度校准,上述校准均是在无油真空仓中进行的。所述装置包括光谱辐射亮度响应度校准机构、光谱辐射照度响应度校准机构和波长准确度校准机构。国内目前尚无适用于真空紫外光谱辐射计的校准装置,采用本发明的真空紫外光谱辐射计校准方法及装置,可在发射前即在地面实验室真空紫外光谱辐射计的多个参数进行校准,有效保证了真空紫外光谱辐射计获取数据的准确性,对获取太阳和地球表面等日地空间环境的光谱信息等均有着重大意义。
专利价值评估分析
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