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专利基本信息
专利名称 具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN108169257A
专利申请日期 2017-12-08 专利类型 发明专利
申请公布号 CN201711292776.5 申请公布日 2017-12-08
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 朱佩平,何其利,廖可梁,袁清习,张凯,黄万霞,朱中柱,王研
专利权人 中国科学院高能物理研究所
专利摘要 本发明公开了一种具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法,包括以下步骤:首先根据角度信号响应成像机制,在X射线微分相位衬度显微镜像面拍摄样品各转角的谷位放大像、上坡放大像、峰位放大像、下坡放大像,其次根据三种定量成像机制,在X射线微分相位衬度显微镜物面上重建样品各转角的二维吸收衬度像、二维折射衬度像和二维散射衬度像,然后根据逆Radon变换,重建样品的线性吸收系数三维像、线性散射系数三维像、折射率实部衰减率三维像和折射率实部衰减率导数三维像。通过上述方法可以对直径5μm以上的完整细胞进行三维成像,分辨率达到纳米量级。 1
专利价值评估分析
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