您所在的位置: 首页 > 专利技术 > 正文
专利基本信息
专利名称 高精度单F-P板角位移测量仪
专利状态 - 专利号(申请号) CN1219230C
专利申请日期 2003-08-22 专利类型 发明专利
申请公布号 CN03150505.8 申请公布日 2003-08-22
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 张彩妮, 王向朝
专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所
专利摘要 一种高精度单F-P板角位移测量仪,它包含有带驱动电源的调制光源,沿着该调制光源发出的光束的前进方向上置有光束准直物镜和反射镜,在反射镜的反射光束的前进方向上置有待测物体,在该待测物体反射光的前进方向上置有F-P板和分束镜,该分束镜的端口b透射光束方向上置有透镜和光电转换元件,该光电转换元件与连接计算机的模数转换元件相连,在该分束镜的端口c反射光束方向上置有CCD图像探测器,该CCD图像探测器与连接计算机的模数转换元件相连。
专利价值评估分析
相关推荐
Baidu
map