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专利基本信息
专利名称 用于透射电镜的原位拉伸试样的制备方法
专利状态 专利权维持 专利号(申请号) 2014101721267
专利申请日期 2014-04-28 专利类型 发明专利
申请公布号 201410172126 申请公布日 2014-04-28
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 -
专利权人 浙江大学
专利摘要 用于透射电镜的原位拉伸试样的制备方法,包括以下步骤:选取符合低指数带轴入射的区域:对样品进行电解抛光,使样品的厚度抛光到试验需要的厚度,样品的表面平整光亮洁净;用扫描电镜的背散射电子衍射技术测定各晶粒的取向,选定恰好符合低指数带轴的晶粒,并标记选定的晶粒;选定的晶粒作为符合低指数带轴入射的区域;使用聚焦离子束加工技术在选定的晶粒内预制一道裂口,在原位拉伸时,样品将在裂口处优先变形。本发明具有通过透射电镜能够很容易地找到符合低指数带轴入射的区域,能够实现实时动态地观察目标区域的高分辨像的目标的优点。
专利价值评估分析
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