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专利基本信息
专利名称 一种磁电材料磁学性能同步测试装置
专利状态 专利权维持 专利号(申请号) 201310287730X
专利申请日期 2013-07-10 专利类型 发明专利
申请公布号 201310287730 申请公布日 2013-07-10
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 -
专利权人 厦门大学
专利摘要 一种磁电材料磁学性能同步测试装置,涉及磁电材料的测试。设有电磁铁、直流电源、信号发生器、屏蔽罩、亥姆赫兹线圈、锁相放大器、霍尔探头、探测线圈、磁通计、高斯计、应变片、应变仪、数据采集装置、计算机;亥姆赫兹线圈放置在电磁铁的磁隙中,信号发生器输出端与锁相放大器输入端连接,样品的磁电信号输出端接锁相放大器输入接口,锁相放大器输出端接数据采集装置输入端,高斯计输出端接数据采集装置输入端,磁通计输出端接数据采集装置输入端,应变仪与数据采集装置输入端连接,霍尔探头放置于样品附近,霍尔探头接入高斯计,探测线圈缠绕在样品周围,探测线圈输出端接磁通计输入端,应变片贴在样品的表面,应变片与应变仪连接。
专利价值评估分析
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