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专利基本信息
专利名称 基于磁致伸缩材料光学腔的精密磁场探测方法及系统
专利状态 - 专利号(申请号) CN108896936B
专利申请日期 2018-05-03 专利类型 发明专利
申请公布号 2018104140930 申请公布日 2018-05-03
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 刘永椿;李奕璠;尤力;刘贝
专利权人 清华大学
专利摘要 本发明公开了一种基于磁致伸缩材料光学腔的精密磁场探测方法及系统,其中,方法包括以下步骤:结合磁致伸缩材料和高反射率腔镜形成光学腔,光学腔腔长跟随待测磁场变化;将激光锁定在光学腔的共振频率上,以使激光频率完全跟随光学腔的腔长;利用磁致伸缩效应的非线性特性,通过加载调制磁场将待测直流磁场信号转变为交流信号进行测量,以避开低频噪声;实现激光频率变化的低噪声检测,以获得待测磁场信号。该方法通过利用磁致伸缩材料形成光学腔,进一步将激光频率锁定到光学腔上,从而将微弱磁场的变化转化为激光频率的变化,实现在常温条件下工作的高灵敏度磁场探测。
专利价值评估分析
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