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专利基本信息
专利名称 一种基于紫外可见光谱的二元掺伪当归快速准确的定量分析方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN109975229A
专利申请日期 2019-05-10 专利类型 发明专利
申请公布号 2019104002174 申请公布日 2019-05-10
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 谭小耀;魏雪儿;卞希慧;柳开鹏;初园园
专利权人 天津工业大学
专利摘要 本发明涉及一种基于紫外可见光谱的二元掺伪当归的定量检测方法,具体步骤是配制一定数目的当归二元掺伪样品,并采集所有样品的紫外光谱数据,将所有数据按照KS分组方法分为训练集和预测集,将训练集的光谱采用SNV方法消除光的散射,采用一阶导数(1stDer)扣除光谱背景,采用MCUVE消除无信息变量后,采用最佳因子数建立PLSR模型,将预测集的光谱进行同样处理后代入到模型中,进行预测。从而实现对二元掺伪当归组分的定量分析。本发明的优势在于仪器操作简单、分析速度快、分析结果准确。本发明适用于对二元掺伪当归组分进行定量分析。
专利价值评估分析
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