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专利基本信息
专利名称 一种利用单模错位光纤同时测量温度和磁场的方法
专利状态 - 专利号(申请号) CN106370226B
专利申请日期 2016-08-29 专利类型 发明专利
申请公布号 2016107540796 申请公布日 2016-08-29
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 何巍;祝连庆;娄小平;董明利;刘锋;闫光;张雯
专利权人 北京信息科技大学
专利摘要 本发明提供了一种利用单模错位光纤同时测量温度和磁场的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:a)选取三段单模光纤进行错位熔接,得到错位传感器;b)将所述错位传感器与光纤光栅熔接,进行温度标定和磁场标定;c)采集错位传感器与光纤光栅的波长漂移量,拟合错位传感器与光纤光栅的波长漂移量随温度和磁场变化量的关系曲线;d)利用步骤c)的关系曲线对待测环境中的温度和磁场同时测量。本发明将错位传感器和光纤光栅熔接在一起,由于光纤光栅和错位干涉结构具有不同的温度和磁场传感灵敏度,实现了同时对温度以及磁场进行测试。
专利价值评估分析
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