您所在的位置: 首页 > 专利技术 > 正文
专利基本信息
专利名称 中子衍射层析成像装置
专利状态 - 专利号(申请号) CN1421690
专利申请日期 2002-12-23 专利类型 发明专利
申请公布号 CN02155099.9 申请公布日 2002-12-23
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 陈建文, 高鸿奕, 谢红兰, 徐至展
专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所
专利摘要 一种中子衍射层析成像装置,包括转动平台、闪烁体、铝镜、CCD相机、计算机和暗箱,所说的闪烁体、铝镜和CCD相机放在暗箱中,中子束入射到放置在转动平台上的样品上,中子被样品产生的衍射中子垂直入射,被闪烁体接收,转化为含有样品信息的可见光,被铝镜反射进入CCD相机上,数字化后转入到计算机,其特点是:在转动平台之前,还设有由互相垂直放置的、具有一定曲率的单晶铝和单晶铝构成的单色聚焦器。本发明装置兼有中子衍射和中子层析的优点,能高分辨率地重构待测样品中待测元素的三维空间分布,特别是能测试和分辨吸收系数非常相近的元素的空间结构。
专利价值评估分析
相关推荐
Baidu
map