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专利基本信息
专利名称 太赫兹目标散射特性测试装置及测试方法
专利状态 专利权维持 专利号(申请号) 2013100349501
专利申请日期 2013-01-30 专利类型 发明专利
申请公布号 201310034950 申请公布日 2013-01-30
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 -
专利权人 杨洋
专利摘要 本发明涉及太赫兹的特性测试领域,具体涉及一种太赫兹目标散射特性测试装置,其包括光学实验台,所述光学实验台上设置自动旋转光学平台、龙门架、运动控制器、太赫兹波源、透镜以及数据读取装置;所述龙门架横跨所述自动旋转光学平台,所述龙门架上设置水平的滑轨,所述滑轨上连接一立式自动旋转台,所述立式自动旋转台上设置被测物;所述自动旋转光学平台上设置探测器,所述探测器与所述数据读取装置电连接。测试方法是通过对金属盘或塑料盘的散射试验,分析太赫兹目标散射特性。本发明太赫兹目标散射特性测试装置简便、易安装、成本低。测试方法简便易行,数据误差小。
专利价值评估分析
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