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专利基本信息
专利名称 一种用于集成电路的定点检测机构
专利状态 专利权维持 专利号(申请号) 2016107085175
专利申请日期 2016-08-23 专利类型 发明专利
申请公布号 201610708517 申请公布日 2016-08-23
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 -
专利权人 王文庆
专利摘要 本发明公开了一种用于集成电路的定点检测机构,包括夹持底座、立柱、伸缩管、旋转机构、伸缩杆和连接在伸缩杆一端的探针;夹持底座成型有一通槽,通槽的上侧壁成型有一对连接柱,通槽内设有夹持板,夹持板的上端成型有一对插接柱,连接柱的底面成型有插槽,插接柱插接在插槽内,连接柱上插套有第一压簧;伸缩管的一端成型有圆形的连接套,连接套插套在立柱上,连接套的外侧壁上成型有环形的齿圈,旋转机构包括与齿圈的一侧啮合连接的旋转齿轮、插套在旋转齿轮中部的竖直的花键轴;伸缩管的另一端成型有伸缩槽,伸缩杆插接在伸缩槽内。本发明能释放双手,方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。
专利价值评估分析
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