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专利基本信息
专利名称 一种集成电路测试高效测试装置
专利状态 - 专利号(申请号) CN212722954U
专利申请日期 2020-08-24 专利类型 实用新型专利
申请公布号 2020217838125 申请公布日 2020-08-24
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 朱水泉
专利权人 天津电子信息职业技术学院
专利摘要 本实用新型实施例公开了一种集成电路测试高效测试装置,包括固定底座,所述固定底座顶端中部开设有导向滑槽,所述导向滑槽内壁一端中部开设有第一安装槽,所述第一安装槽内部安装有第一气缸,所述第一气缸推杆端安装有L型放置板,所述L型放置板内部放置有集成电路块,所述固定底座顶端两侧边部均开设有第二安装槽,所述第二安装槽内部安装有第二气缸,所述第二气缸推杆端安装有限位推板,所述固定底座顶端靠近第一安装槽处安装有若干支撑柱。本实用新型通过第一气缸、L型放置板、第二气缸和限位推板,可以对集成电路块的放置进行定位和限位,可以降低集成电路块的放置难度,便于工作人员对集成电路块的检测。
专利价值评估分析
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