您所在的位置: 首页> 专利技术> 正文
专利基本信息
专利名称 一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置
专利状态 - 专利号(申请号) CN108037525B
专利申请日期 2017-11-29 专利类型 发明专利
申请公布号 2017112259947 申请公布日 2017-11-29
授权公告号 - 授权公告日 -
发明人 唐紫超;王永天;施再发;张将乐;刘方刚;王可
专利权人 厦门大学
专利摘要 一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置,涉及质谱及光电子成像。设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨;所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连,所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度,第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连,旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置,光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上。
专利价值评估分析
相关推荐
官方社群
Baidu
map